搜索
搜索
当前位置:
首页
>
>
>
有机异物分析

检测项目

有机异物分析

零售价
0.0
市场价
0.0
浏览量:
1000
产品编号
所属分类
成分分析
数量
-
+
库存:
0
1
产品描述
[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[产品参数, 参数]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]

有机异物分析

文章出处:有机异物分析有机异物分析 发布时间:2018-08-17

有机异物分析是指针对产品表面的有机异物,根据异物的形态、检测深度及检测面积等差异而选用特定的仪器,对其有机成分进行分析,判定其主成分,从而获取异物信息的一种分析方法。有机异物在放大观察下常常表现出较为透明且性软等特点。目前有机异物的分析手段主要有以下几种:

分析手段 典型应用 分析特点 参考标准
红外光谱FTIR 有机物定性;有机污染物分析 能进行微区分析,其显微镜测量孔径可到8mm或更小,可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析 GB/T 6040-2002
飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS 有机材料和无机材料的表面微量分析;表面离子成像;深度剖面分析 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度,可以检测到ppm或更低的浓度;深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率;小面积分析 ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009
动态二次离子质谱D-SIMS 产品表面微小的异物分析;氧化膜厚度分析;掺杂元素的含量测定 分析区域小,能分析≥10μm直径的异物成分;分析深度浅,可测量≥1nm样品;检出限高,一般是ppm~ppb级别 ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009


案例分析
案件背景:

某客户产品Switching power使用过程中发现接触不良现象,放大观察后发现其电源插孔内部发现大量固体颗粒物,怀疑由其引起电源插孔接触不良。

检测手段:

FTIR分析

检测标准:

GB/T 6040-2002 红外光谱分析方法通则 

分析方法简介:

1、通过显微镜放大观察发现电源插孔内部表面存在异常颗粒状物质,见下图:

2、在显微镜通过特殊取样工具取出电源插孔内部表面异物,并使用FTIR对其成分进行分析,判定其有机主成分:

3、对其红外光谱进行解析,根据其分子结构特征,结合标准红外图谱可知,该物质有机主成分为松香。

扫二维码用手机看
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

相关检测

暂时没有内容信息显示
请先在网站后台添加数据记录。

Copyright© 2021  苏州天标检测技术有限公司  版权所有   苏ICP备15049334号-3    网站建设:中企动力  苏州   本网站已支持IPv6   SEO标签导航

Copyright© 2021  苏州天标检测技术有限公司  版权所有

苏ICP备15049334号-3    网站建设:中企动力  苏州  SEO标签导航

搜索
搜索